Название: Основы технологии и энергетики - учебное пособие (автор неизвестен)

Жанр: Технические

Просмотров: 1189


2. измерение параметров лис

 

                Так как в ИС отдельные элементы не могут быть испытаны, то основное внимание при испытании микросхем уделяется работоспособности схемы в целом. Готовые ИС подвергаются испытаниям в двух направлениях: разбраковке по принципу "годен - не годен" (производственный характер испытания) и определению зависимости одних параметров от других с учетом внешних условий. При этом используются три основных типа испытаний: статические, динамические и стендовые.

                Статические испытания выполняются на постоянном токе и предусматривают измерение статических параметров ИС.

                Динамические испытания выполняются в импульсных режимах, при которых измеряются динамические параметры ИС.

                Стендовые испытания (моделирование рабочих процессов) максимально имитируют реальный рабочим режим.